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更新時(shí)間：2026-01-23型號(hào)：
現(xiàn)在聯(lián)系
Nicomp N3000激光納米粒度儀

激光納米粒度儀：專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案，工作原理：動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS），檢測(cè)范圍：0.3nm-10.0μm。

更新時(shí)間：2026-01-23型號(hào)：Nicomp N3000
現(xiàn)在聯(lián)系
zeta電位及粒度分析儀

zeta電位及粒度分析儀：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）

更新時(shí)間：2026-01-23型號(hào)：
現(xiàn)在聯(lián)系
Nicomp Z3000 Zeta粒度及zeta電位分析儀

粒度及zeta電位分析儀工作原理：粒度檢測(cè)：動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS） Zeta電位檢測(cè)：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）

更新時(shí)間：2026-01-23型號(hào)：Nicomp Z3000 Zeta
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Nicomp Z3000 Zetazeta電位分析儀測(cè)粒徑

zeta電位分析儀測(cè)粒徑工作原理：粒度檢測(cè)：動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS） Zeta電位檢測(cè)：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）

更新時(shí)間：2026-01-23型號(hào)：Nicomp Z3000 Zeta
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