欧美日韩一区二区三区四区在线,中文字幕高清字幕av,黑人中文字幕一区二区

您的位置： 首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 粒度儀 >

產(chǎn)品目錄

PRODUCT CENTER

粒度儀

審計(jì)最終粒度儀大粒子計(jì)數(shù)器高濃度顆粒計(jì)數(shù) 大乳粒分析儀光阻法粒度儀納米激光粒度儀 Zeta電位與粒徑分析儀全進(jìn)口激光粒度分析儀全自動(dòng)顆粒計(jì)數(shù)器多功能自動(dòng)計(jì)數(shù)粒度分析儀不溶性微粒分析儀查看全部產(chǎn)品

相關(guān)文章

激光顆粒計(jì)數(shù)器

激光顆粒計(jì)數(shù)器型號(hào)：AccuSizer 780 A7000 APS 全自動(dòng)顆粒計(jì)數(shù)/粒度分析儀，單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)（Single Particle Optical Sizing，SPOS），檢測(cè)范圍： 0.5 μm – 400 μm。

更新時(shí)間：2026-01-23型號(hào)：
現(xiàn)在聯(lián)系
Nicomp N3000激光納米粒度儀

激光納米粒度儀：專(zhuān)為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案，工作原理：動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS），檢測(cè)范圍：0.3nm-10.0μm。

更新時(shí)間：2026-01-23型號(hào)：Nicomp N3000
現(xiàn)在聯(lián)系
zeta電位及粒度分析儀

zeta電位及粒度分析儀：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）

更新時(shí)間：2026-01-23型號(hào)：
現(xiàn)在聯(lián)系
Nicomp Z3000 Zeta粒度及zeta電位分析儀

粒度及zeta電位分析儀工作原理：粒度檢測(cè)：動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS） Zeta電位檢測(cè)：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）

更新時(shí)間：2026-01-23型號(hào)：Nicomp Z3000 Zeta
現(xiàn)在聯(lián)系
Nicomp Z3000 Zetazeta電位分析儀測(cè)粒徑

zeta電位分析儀測(cè)粒徑工作原理：粒度檢測(cè)：動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS） Zeta電位檢測(cè)：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）

更新時(shí)間：2026-01-23型號(hào)：Nicomp Z3000 Zeta
現(xiàn)在聯(lián)系

共 19 條記錄，當(dāng)前 1 / 4 頁(yè) 首頁(yè) 上一頁(yè) 下一頁(yè) 末頁(yè) 跳轉(zhuǎn)到第頁(yè)